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產品展示首頁 > 產品展示 > 電性能檢測儀器 > 介電常數測試儀 > GHJ-B薄膜介質損耗測試儀

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產品名稱：薄膜介質損耗測試儀

產品型號：GHJ-B

產品報價：

產品特點：薄膜介質損耗測試儀系統由測試裝置（夾具）、高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件電感器組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值（tanδ）和介電常數（ε）自動測量的解決方案。

GHJ-B薄膜介質損耗測試儀的詳細資料：

薄膜介質損耗測試儀由測試裝置（夾具）、高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件電感器組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過公式計算得到。使用數字Q表具有自動計算介電常數（ε）和介質損耗（tanδ）。

薄膜介質損耗測試儀適用標準：

1 GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法

2 GBT 1693-2007 硫化橡膠介電常數和介質損耗角正切值的測定方法

3 ASTM-D150-介電常數測試方法

4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質損耗和介電常數的測試方法

系統組成：

主機：高頻Q表

功能名稱：	GHJ-B
信號源范圍DDS數字合成信號	100KHZ-160MHz
信號源頻率覆蓋比	16000:1
信號源頻率精度 6位有效數	3×10-5 ±1個字
采樣精度	12BIT 高精度的AD采樣，保證了Q值的穩定性，以及低介質損耗材料測試時候的穩定性
Q測量范圍	1-1000自動/手動量程
Q分辨率	4位有效數,分辨率0.1
Q測量工作誤差	<5%
電感測量范圍 4位有效數,分辨率0.1nH	1nH-140mH分辨率0.1nH
電感測量誤差	<3%
調諧電容	主電容17-240pF (一體鍍銀成型,精度高)
電容自動搜索	是(帶步進馬達)
電容直接測量范圍	1pF～25nF
調諧電容誤差分辨率	±1 pF或<1% 0.1pF
諧振點搜索	自動掃描
Q合格預置范圍	5-1000聲光提示
Q量程切換	自動/手動
LCD顯示參數	F，L，C，Q，Lt，Ct, tn, Σr
自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能	有
大電容值直接測量顯示功能	測量值可達25nF
介質損耗系數	精度萬分之一
介電常數	精度千分之一
材料測試厚度	0.1mm-10mm
介電常數	LCD直接顯示
介質損耗系數	LCD直接顯示

（數顯）介電常數εr和介質損耗因數tanδ測試裝置：

固體：材料測量直徑Φ38mm ；厚度可調 ≥ 15mm

電感組：

電感No	電感量	準確度%	Q值≥	分布電容約略值	諧振頻率范圍 MHz		適合介電常數測試頻率
電感No	電感量	準確度%	Q值≥	分布電容約略值			適合介電常數測試頻率
1	0.1μH	±0.05μH	200	5pF	20~70	31~103	50MHz
2	0.5μH	±0.05μH	200	5pF	10~37	14.8~46.6	15MHz
3	2.5μH	±5%	200	5pF	4.6~17.4	6.8~21.4	10MHz
4	10μH	±5%	200	6pF	2.3~8.6	3.4~10.55	5MHz
5	50μH	±5%	200	6pF	1~3.75	1.5~4.55	1.5MHz
6	100μH	±5%	200	6pF	0.75~2.64	1.06~3.20	1MHz
7	1mH	±5%	150	8pF	0.23~0.84	0.34~1.02	0.5MHz
8	5mH	±5%	130	8pF	0.1~0.33	0.148~0.39	0.25MHz
9	10mH	±5%	90	8pF	0.072~0.26	0.107~0.32	0.1MHz